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高木 聖也*; 安田 和弘*; 山本 知一*; 松村 晶*; 石川 法人
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 326, p.140 - 144, 2014/05
被引用回数：39 パーセンタイル：94.83(Instruments & Instrumentation)透過型電子顕微鏡を利用した観察技術を駆使して、高エネルギー重イオン(200MeV Xe)を照射したCeO
に形成された柱状欠陥集合体(イオントラック)の原子配列構造を詳細に調べた。高分解能Z(原子番号)コントラスト像(HAADF像)の観察結果によると、イオントラック内部のCe副格子の結晶構造は照射後も保持されていること、ただし、Ce副格子に起因する信号強度が減少している4-5nm径の領域が形成されていることが分かった。さらに、環状明視野(ABF)法による観察結果によると、O副格子の方がCe副格子よりも顕著に乱れていること、O副格子が乱れている4nm径領域が形成されていることが分かった。
八巻 徹也; 加藤 翔; 山本 春也; 箱田 照幸; 川口 和弘*; 小林 知洋*; 鈴木 晶大*; 寺井 隆幸*
no journal, ,
基板との化学反応性が高い金属イオンを注入すると、イオンの飛程付近に化合物が形成される。例えば、グラッシーカーボン(GC)へのタングステン(W)イオン注入では、室温においても両者が反応し炭化タングステンの形成が期待される。そこで本研究では、イオンビームを用いた燃料電池触媒研究の一環として、GC基板中に100keV W
を注入することで形成された微粒子に対し、X線光電子分光分析を行い構成元素の化学状態を詳細に検討した。注入層における化学的な相互作用は、生成化合物の標準ギブス自由エネルギーを用いて説明することが可能であった。
